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扫描近场光学显微镜(SNOM)

扫描近场光学显微镜(SNOM)

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品牌:

WITec

型号:

alpha300 S

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传统光学显微镜的空间分辨率受限于光学衍射极限,最高分辨率为波长的一半λ/2。扫描近场光学显微镜 (SNOM或NSOM) 则可以突破衍射极限,实现了60-100nm的超高光学空间分辨率。近场光学技术应用领域非常广,无需特殊样品制备。


WITec公司的 alpha300 S近场光学显微镜采用硅基中空悬臂式近场探针,轻松实现超衍射极限的光学成像。在近场光学图像采集的过程中,可同时获得样品的AFM表面形貌,实现近场光学信息与样品形貌的相关分析。WITec近场光学系统采用成熟稳定的AFM激光偏转反馈系统同来控制探针与样品之间的距离。


与荧光技术联用,近场光学系统可实现单分子检测。


超高分辨显微镜

alpha300 S近场显微镜是一种纯近场光学显微镜,在很多样品上都可获得一致的超高分辨率,并且拥有透射与反射式两种模式。 该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 


alpha300 S系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程,操作非常简便、直观。


SNOM近场模式采用特定的显微物镜,便于探针安装与定位。alpha300 S显微镜不仅与所有AFM工作模式兼容,还可以配备透射、反射及荧光等标准光学模式。


由于近场光学信号极其微弱,alpha300 S近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管,并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是,UHTS光谱仪可与alpha300 S系统兼容,实现近场光谱与成像测量。 


WITec 独特的 SNOM 悬臂技术


[A] SNOM探针和样品的光学图像(俯视图)

[B] 探针侧视图

[C] SNOM探针的SEM图像

[D] SNOM探针尖端的小孔SEM图像

[E] 批量生产的SNOM探针


关键特性

· 突破衍射极限的空间光学分辨率(横向约 60 nm)

· 独家专利的SNOM探针技术

· 在空气与液体中均可使用

· 包含多种原子力与光学显微镜模式

· 非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术,基本不需要样品制备

· 可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像

· 集成三种技术到一台仪器上:共聚焦显微镜、AFM 和SNOM 



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