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光电流成像及光谱响应度综合测量系统

光电流成像及光谱响应度综合测量系统

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良允科仪

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该系统采用激光或波长连续可调的超连续谱光源作为激发诱导光源,搭载显微镜、自动平台/手动平台及高精度源表实现光电材料的高分辨光电流谱(成像)、定波长/变波长下的光谱响应度测试。

超连续谱光源

● 脉冲能量>1uJ                                                  

● 总功率>8W                                                

● 波长:400nm-2400nm                                 

● 重复频率0.01,0.1,0.2,0.5,1,4,5,10,20,40,80,200MHz

应用领域

· 二维材料

· 太阳能电池

· 纳米光子学

· 光电器件

· PN结器件

系统特点

· 微米级空间分辨率

· 连续/脉冲激光可选

· 波长连续可调的超连续谱光源可选

· nA、pA、fA不同精度的源表可选

· 可以测量不同偏压下的光电流图像/光谱响应度

     

      某硅探测器在405nm激光下的光电流成像                                                  In2S3在不同波长下的响应度  


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