H400V-PM可单独使用，也可搭配显微镜/显微光谱（光电）系统使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范围内控温，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个可抽真空的密封腔，亦可内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。
温控参数：
温度范围：-190℃~400℃（-190℃~600℃，30℃~1000℃可选）
传感器/温控方式：100Ω铂RTD / PID控制（含LVDC降噪电源）
加热/制冷速率：30℃/min（@100℃）
温控速度：±0.01℃/min
温度分辨率：0.01℃
温度稳定性：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
软件功能：可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线
电学参数：
探针：默认为铼钨材质的弯针探针（可选其他种类探针）
探针座：杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好
点针：手动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口：默认为BNC接头，可选三同轴接口
*可增设腔内接线柱（样品接电引线）
样品台面电位：默认为电接地，可选电悬空（作背电极），可选三同轴接口
光学参数：
适用光路：反射光路（*另有透射光路型号）
窗片：可拆卸与更替的窗片
物镜工作距离：8.5mm
上盖窗片观察：窗片范围φ38mm，视角±60.7°
负温下窗片除霜：吹气除霜管路
结构参数：
放样：打开上盖后置入样品再点针，关上盖后无法移动探针
气氛控制：可抽真空的腔体，亦可充入保护气体使用
外壳冷却：可通循环水，以维持外壳温度在常温附近
安装方式：水平安装 或 垂直安装
台体尺寸/重量：180 mm x 130 mm x 27 mm / 1600g
※ 可直接固定在WITec拉曼光谱仪上实现高低温光电流成像及原位高低温拉曼成像。
典型应用：
微区光电流测试，表征薄膜、二维材料、纳米材料和分子/有机材料器件的电性能测试
晶圆、半导体器件、集成电路、印刷电路板、光伏板、LCD/LED测试...
客服1
客服2